功能(néng)描述 

52400e系列SMU(電(diàn)源量測單元,Source M€ easurement Unit)為(wèi)高(gāo)速PXα∏γIe模組設計(jì)，可(kě)安裝于最新PXIe¥α機(jī)箱。52400e SMU是(shì)一(yī)款可(kě)進行•♠(xíng)高(gāo)精密電(diàn)壓/電(d♣←δ£iàn)流供應源或負載模拟，同時(shí)又(yòu)可(k÷★ě)精确量測電(diàn)流/電(diàn)壓值 €之綜合高(gāo)精密儀器(qì)設備。52400e系列電​λ♦(diàn)源量測單元具備四象限輸出功能(néσ εng)，不(bù)單精确且具備高(gāo)•§→π速量測性能(néng)。這(zhè)些(xiē)特性&"↑®使得(de)電(diàn)源量測單元适合進行(xíng)精确的(de)參♠απ數(shù)量測；應用(yòng)範圍包含α≈:ICs,發光(guāng)二極體(tǐ)(LEDs),雷射☆λ♣二極體(tǐ)(Laser Diodes),電(diàn¶♦)晶體(tǐ)(Transistors),太陽能(néng≥ ≤)電(diàn)池(Solar cells₹≤),锂電(diàn)池(Batteries)以及其他(tā)半導體‍> (tǐ)元件(jiàn)。

為(wèi)符合各樣的(de)量測條件(jiàn)，✔Ω‌52400e系列電(diàn)源量測單元提供16段頻(β≤​pín)寬控制(zhì)供使用(yòng)者選擇穩定的(de) £控制(zhì)回路(lù)。多(duō)重檔位加上(shàng)1 ε<8-bit DAC/ADC提供了(le)最佳程式、量測解析度。∏↓取樣頻(pín)率(Sampling Rate)達到(dào)100ks/≤±≥±S。特殊可(kě)編程輸出阻抗，提供使用(y≈‌òng)者設定電(diàn)池內(nèi)部串聯₩∑ 電(diàn)阻，此特性讓52400e系列電(diàn)源量測單元成為(w©ε<èi)理(lǐ)想的(de)電(diàn)池模拟器(qì)。标準六線式(±f★♠<φorce, ±sense and ±guards ≤&→)接線，針對(duì)在低(dī)電(diàn)流量測應用(y✘♦&λòng)，如(rú)行(xíng)動裝置IC與感應器(qì)測試，可(kě)防‍₽>"止任何漏電(diàn)流(Leakage Current)并降低(dī)量★​測時(shí)間(jiān)(Settling Time)，以大(dà)★₽幅提高(gāo)量測精度及速度。

52400e系列電(diàn)源量測單元內(nèi)建β☆♠專利硬體(tǐ)時(shí)序引擎，使用(yòng)時(shí↕§δ)序(Deterministic Timing)控制(zhì)每一(↔↓αyī)個(gè)電(diàn)源量測單元單元，即使未與電(d '↓iàn)腦(nǎo)連接使用(yòng)，量測程←✔✘序仍可(kě)正常執行(xíng)。記憶®∏≈‌體(tǐ)于每個(gè)Channel最多(duō)可(kě)儲§••存65525個(gè)定序指令及內(nèi)建" 32k量測讀(dú)值，可(kě)提供數(shù)個(gè)™↓模組卡片的(de)量測程序進行(xíng)同步，并确 ₹ 保無任何輸出及量測之時(shí)間(jiān)延遲。