PXI-X6330是(shì)一(yī)€₩款國(guó)産化(huà)自(zì)主研發的(≈φde)高(gāo)性價比數(shù)字源測量模塊 (SMU)。主φφ<要(yào)用(yòng)于對(duì)各種數(shù)字Ω∑和(hé)混合信号集成電(diàn)路(lù™☆)電(diàn)源系統的(de)測試、特征分>∞β↔(fēn)析。模塊具有(yǒu)電(diσ<àn)壓電(diàn)流四象限輸出功能(néng)，可(kě)以提供正電(di÷€βàn)壓和(hé)正電(diàn)流（1象限）、負電(diàn)壓和(hé)正φ<§電(diàn)流（2象限）、負電(diàn)壓和(hé)負電‌γλ(diàn)流（3象限）或者正電(diàn)壓和(hé)負電(di •"•àn)流（4象限）。借助于數(shù)字源測量模塊，用(yò¶→ng)戶可(kě)以針對(duì)任意負載自(zΩ≠ì)定義任意電(diàn)壓或者電(diàn)流輸出，且不(←π∞bù)出現(xiàn)過壓或振蕩，同時(shí)能(néng)夠測量負載∑¶的(de)電(diàn)壓或電(diàn)流

PXI-X6330是(shì)标準的(de)3U PXI闆卡，具有(yǒu‍ ♥₹)高(gāo)精度V/I 源測功能(néng)，4個(gè)‌δ'通(tōng)道(dào). 所有(yǒu)通(tōng)道(dào)都("δφ×dōu)具有(yǒu)高(gāo)精度的(de)可(kě)編β≈程電(diàn)壓電(diàn)流功能(néng)，電(diàn)£≤↕☆壓電(diàn)流可(kě)以從(cóng)–11V到(dào)+11★∞©↑V@2000mA. 所有(yǒu)通(tōng)道(dào)可(k"★ě)以直接連到(dào)外(wài)部DUT上(shε©àng)，連接器(qì)是(shì)25pin的(de)D-Sub标©₽↑↓準接口，包括4個(gè)force通(tōng)道(dào)，α₹4個(gè)sense通(tōng)道(dào)和(hé)地(dì×').    

    UI-X6330可(k↕‌÷γě)以用(yòng)來(lái)構建自(zì)動測試系統，測試效率高 ♥ (gāo)，可(kě)以縮減硬件(jiàn)↕♠™÷測試時(shí)間(jiān)，軟件(jiàn)集成化(huδ↕→à)高(gāo)，開(kāi)發容易快(kuài). 基于PXI架構, UI->₹γ>X6330可(kě)以和(hé)其他(tā)闆卡配合使用(yφ•←™òng)，比如(rú) 數(shù)字化(huà)儀, RF射頻(pí↓λ$¥n)模塊，頻(pín)譜分(fēn)析儀✘±₹模塊，數(shù)字功能(néng)模塊等搭建混合功能(né£ε​ ng)測試系統，這(zhè)種搭配使用(yòng)采用(yòng)的€≠↓♥(de)多(duō)核效率高(gāo)，同時(shí)響應快(kuài)'&. 另外(wài), 這(zhè)種模塊化(huà)，集成化(hu¥§"∞à)多(duō)通(tōng)道(dào)的(de)功能(nén♣÷↔ g)，可(kě)以對(duì)多(duō)個(gè©γ≤≈)器(qì)件(jiàn)進行(xíng)并性測試，從(có₹‍​ng)而提高(gāo)測試産量.

   UI-X6330單​↓™張闆卡，集成有(yǒu)電(diàn)源∞ €¥功能(néng)，高(gāo)精度源灌功能(néng)，以及讀(dú‌€♥)寫快(kuài)速響應功能(néng). 這πλ∞(zhè)個(gè)高(gāo)精度模塊可(kě)以實現(←₩☆xiàn)高(gāo)電(diàn)壓同時(shí)電(dβ≈iàn)流測試，而且，在保持高(gāo)精度的(de)同時(sh←↕<í)還(hái)具有(yǒu)高(gāo)響應速率和(hé)高(g♥εāo)采樣率，能(néng)快(kuài)速發送和(hé)快(kuài)速測量™&♣，甚至可(kě)以通(tōng)過波形的(de)方式表  ¶現(xiàn). 同時(shí)，闆卡配置了(le)繼電(di☆÷≠àn)器(qì)，隔離(lí)效果好(hǎφ↔​o)，有(yǒu)被測器(qì)件(jiàn)與≥σβ測試闆卡之間(jiān)的(de)隔離(lí)保護功能(néng),§Ω​↑闆卡具有(yǒu)remote sense功能(néng)，能(n↕Ωéng)夠進行(xíng)測試中的(de)校(≠∑ xiào)準補償，保護小(xiǎo)信号 §•®完整性同時(shí)，減少(shǎo)漏電(diàn)流的(de)産™←₩Ω生(shēng)，準确度更高(gāo). 這(zhè)些(xiē∞₩®‌)強大(dà)功能(néng)能(néng)使得(× de)UI-X6330應用(yòng)到(dào)寬≥Ω• 電(diàn)壓電(diàn)流需求應用(yòng)，例如(rú↓§)研發測試，參數(shù)測試，功能(néng)測 ≈€試，量産測試，可(kě)以搭配測試RF，混合IC, A←&♦TE, 數(shù)據采集, 及控制(z✔λhì)系統等. 

 特點

支持中标麒麟系統驅動和(hé)軟件(jiàn)開(kāi)™ 發平台

标準PXI 3U總線接口，并且兼容混合插槽機(jī)箱接口

4個(gè)高(gāo)分(fēn)辨率高(gāo)精度大(dà)功率電​→$(diàn)壓源、電(diàn)流源輸出及測量通(tōng)道(dào)

支持加壓/測壓、加壓/測流、加流/測壓、加流/測流操作(zπ♣​uò)。

16bit的(de)電(diàn)壓和(hé"'β)電(diàn)流輸出分(fēn)辨率。

18bit的(de)電(diàn)壓和(hé)電(diàn)流測量÷ 分(fēn)辨率。

7個(gè)電(diàn)流檔位可(kě)ε↔©§選。

可(kě)編程的(de)電(diàn)壓鉗位及電(diàn)♠α£®流鉗位功能(néng)

多(duō)塊闆卡及多(duō)個(gè)通(tōng)道(dào)的↓≥(de)同步采集功能(néng)

每個(gè)通(tōng)道(dào)獨立的(d← e)輸入輸出斷開(kāi)繼電(diàn)器(qì)

備用(yòng)外(wài)部供電(diàn)輸入

目标應用(yòng)

半導體(tǐ)測試

ASICs testing

ATE 數(shù)字測試

LED / 激光(guāng)二極管