PXI-X6320是(shì)标準®λ​的(de)3U PXI闆卡，具有(yǒu)高(gāo)精度V/↓♠I 源測功能(néng)，4個(gè)通(tōng)道(dào).≈‌ 所有(yǒu)通(tōng)道(dào)都(dōu)具有(yǒu±¥ •)高(gāo)精度的(de)可(kě)編程電(diàn)壓電(diàn)流♥©₹功能(néng)，電(diàn)壓電(diàn)流•★可(kě)以從(cóng)–24V到(dào)+24V@ 100α↓ε£0mA. 所有(yǒu)通(tōng)道(dào)可(δ♥Ω×kě)以直接連到(dào)外(wài)部DUT上(shàn↓♣"g)，連接器(qì)是(shì)25pin的(de)D-Su♦©ε≤b标準接口，包括4個(gè)force通(tōng)道₩↓(dào)，4個(gè)sense通(tōng)道(dào)和(β≈hé)地(dì).   ¶&  

    UI-X6320可(kě)以用(☆‍♠↕yòng)來(lái)構建自(zì)動測試系統，測試效γ±♠率高(gāo)，可(kě)以縮減硬件(jiàn)測試$δ時(shí)間(jiān)，軟件(jiàn)集成π✔化(huà)高(gāo)，開(kāi)發容易快←₹β(kuài). 基于PXI架構, UI-X6320可(kě)以和(hé<÷β)其他(tā)闆卡配合使用(yòng)，₩₽比如(rú) 數(shù)字化(huà)π♦β儀, RF射頻(pín)模塊，頻(pín)譜分¶♦(fēn)析儀模塊，數(shù)字功能(néng)模α‌¶₩塊等搭建混合功能(néng)測試系統，這(zhè)種搭配使用(yòn ¥™"g)采用(yòng)的(de)多(duō)核效率高(gāo)，同€ ≈≠時(shí)響應快(kuài). 另外(wài)Additiona↑↕™≥lly, 這(zhè)種模塊化(huà)，集成化(huà)多(duō)通(tλ♣ōng)道(dào)的(de)功能(néng)，↓λ<可(kě)以對(duì)多(duō)個(gè)器(qì₩&)件(jiàn)進行(xíng)并性測試，從(cóng)而↑β提高(gāo)測試産量.

    UI-X6320單張闆卡，集成有(yǒu)電‍¥₩←(diàn)源功能(néng)，高(gāo)精度源灌功能( ↕±​néng)，以及讀(dú)寫快(kuài)速響應功能(φ•₩néng). 這(zhè)個(gè)高(π↕δgāo)精度模塊可(kě)以實現(xiàn)高(gāo)電(diàn> ↓)壓同時(shí)電(diàn)流測試，而且，在保持高(gāo)精度的(de>•)同時(shí)還(hái)具有(yǒuσ✔)高(gāo)響應速率和(hé)高(gāo)采∑β樣率，能(néng)快(kuài)速發送和(h× ♣é)快(kuài)速測量，甚至可(kě)以通(tōng♦↓∑σ)過波形的(de)方式表現(xiàn). &☆同時(shí)，闆卡配置了(le)繼電(di ☆àn)器(qì)，隔離(lí)效果好(hǎo)，有♣≥(yǒu)被測器(qì)件(jiàn)與測試闆卡之間(jiān≈₩)的(de)隔離(lí)保護功能(néngε↓☆),闆卡具有(yǒu)remote sense功能(néng)，能(né×$ng)夠進行(xíng)測試中的(de)校(xiγ♦‌ào)準補償，保護小(xiǎo)信号完整性同時(s£₹hí)，減少(shǎo)漏電(diàn)流的(de)産生(shēng)，準确度& ↕π更高(gāo). 這(zhè)些(xiē)強大(dà)功能(néng)能(n​∑ éng)使得(de)UI-X6320應用(yòng)到(dào)寬電(dià"÷♠↔n)壓需求應用(yòng)，例如(rú)研發測試，參數(★★ ♥shù)測試，功能(néng)測試，量産測試，可(kě)以搭配★≥≈測試RF，混合IC, ATE, 數(shù)據采集, 及控制(zhì)系統等★♣. 

特點

标準的(de)PXI總線産品

4通(tōng)道(dào)，高(gāo)精度V/I sourφΩ♣ce 和(hé)measurement.

支持電(diàn)流源灌 (四個(gè)象限) 

FV/MI,FI/MV,FV/MU,FI,MI.

+24V/-24V 電(diàn)壓量程

6個(gè)可(kě)選測流量程，從(cóng)£÷‍5uA到(dào)1000mA.

16位加壓加流精度.

18位測壓測流精度.

可(kě)編程鉗位電(diàn)流功能(né≠α♠ng).

同步采集功能(néng).

繼電(diàn)器(qì)關閉狀态，測試闆和(hé)DUT間(jiān×₩)隔離(lí)性能(néng)好(hǎo).

可(kě)選外(wài)部供電(diàn).

目标應用(yòng)

半導體(tǐ)測試

ASICs testing

ATE 數(shù)字測試

LED / 激光(guāng)二極管