UI-X6220是(shì)一(yī)個(gè)專用(yòng☆β&)于MEMS芯片的(de)數(shù)字功能✔∞δ(néng)測試闆卡，可(kě)用(yòng)于多(β•duō)功能(néng)測試，量産測試等每張闆卡有(yǒu)32個σ< Ω(gè)通(tōng)道(dào)，每個(✘₽≥gè)通(tōng)道(dào)有(yǒu)PMU功能(néng)，通(tō≥★∏ng)過多(duō)闆卡級聯，能(néng)π×ε擴展到(dào)最多(duō)512個(gè)通(tōng)道(dào)，可(∞♠₹kě)以進行(xíng)DC，AC相(xiàng)關參 £∑♦數(shù)測試

  每個(gè)數(shù)字通(tōng)道✔‍ (dào)有(yǒu)獨立的(de)可(kě)編程×♠功能(néng)， 可(kě)以用(yòng)作(zuò)d ®γrive hi, drive lo, se♥↓Ω nse hi, sense lo和(hé)loadβ‍‍ value，另外(wài)，每個(gè)≠ ₹≤通(tōng)道(dào)提供了(le)高(gāo)精度測量單元(PMU)✔♥♣，以便用(yòng)戶能(néng)進行Ω (xíng)DUT(device under test)的(φ×♣¥de)測試，包括參數(shù)測試，并行(xíng)測試等

  UI-X6220是(shì)基于PXI架構的(de✘‍)闆卡，具有(yǒu)多(duō)功能(néng)測試能(néng)λδ♦Ω力，提供了(le)I2C/SPI功能(néng)，counte¶≠π r計(jì)數(shù)器(qì)功能(néng)，每張闆卡↓↑能(néng)提供16site的(de)I2C測™♠↔π試，8site的(de)SPI測試，通(tōng)過級聯，可(kě​∏‍)以并行(xíng)測試高(gāo)達128site​••¥，同時(shí)，UI-X6220也(yě)¶ε™♥有(yǒu)pattern memory的$αβ(de)功能(néng)，每通(tōng)道(dào)32M ，能(‌±$βnéng)進行(xíng)10M的(de)動态數(shù)字功能¶♣→★(néng)測試

  基于Per pin per s₽∏​ite的(de)架構，能(néng)支持A‌→✔±TE的(de)功能(néng)測試，可(kě)擴✔®π展性強，支持多(duō)種軟件(jiàn£®♠)開(kāi)發環境，能(néng)快(kuài)速幫助客戶進行(xíng)‍φ&開(kāi)發，性價比高(gāo)，能(néng$<₩)為(wèi)客戶減小(xiǎo)開(kāi)發成本，快(®↑→∞kuài)速切入市(shì)場(chǎng)，同時(shí) λ，該闆卡也(yě)可(kě)以和(hé)其他(tā)功能☆Ω(néng)闆卡一(yī)起配合使用(yòng)Ω≈'™，比如(rú)RF闆卡，SMU闆卡，多(duō)功能(néπ©ng)數(shù)模闆卡等，能(néng)提供完™γ整的(de)基于PXI的(de)測試方案，能(né ♥∏÷ng)應用(yòng)到(dào)  MEMS測試，傳感器(qì)芯₹ 片測試，RF芯片測試，電(diàn)源管理(lǐ)芯片測試≤‌，多(duō)功能(néng)芯片測試等&n≤πbsp;

特點

标準PXI總線架構

每闆32個(gè)PMU

16個(gè)I2C master，可(kě)達400 ★kHz時(shí)鐘(zhōng)速率

8個(gè)SPI master，可(kě)達1<₽0MHz時(shí)鐘(zhōng)速率

16個(gè)32bit計(jì)數(shù)器(qì)☆£∞×,可(kě)達10ns

時(shí)鐘(zhōng)速率可(kě)達10MHz

32個(gè) I/O通(tōng)道(dào)，每通(tōng)道(dà±←<σo)PMU功能(néng) 

電(diàn)壓範圍-1V到(dào)+10V≈∑

每個(gè)pin獨立，支持any pin to any↕§' site

每個(gè)pin獨立的(de)PMU功能(↕∞γ néng)，獨立的(de)DC level

操作(zuò)系統支持Windows 7/10 等

支持LabView/ LabWindows 等

支持主/從(cóng)架構通(tōng)信模式

目标應用(yòng)

MEMS芯片測試

G-SENSOR 測試

I2C /SPI功能(néng)測試

自(zì)動測試設備(ATE)

數(shù)字功能(néng)測試