UI-X6920是(shì)個(gè)高(gāo)密★★↕π度高(gāo)速100MHz的(de)PXI數(sh∞∞↑♥ù)字闆， 是(shì)個(gè)特有(​☆<yǒu)的(de)專業(yè)性闆卡，專業(yè)面對(duì)數(shù)字↕↓類的(de)測試, 能(néng)用(yòng)來(lái)測試大(dàσ‌")量的(de)數(shù)字混合芯片.&₽€↔nbsp;

      闆卡有(yǒ<Ω‌♣u)一(yī)個(gè)Sequencer Patte¶©βrn Generator ，功能(néng)上(shàn↑≈✘g)類似于一(yī)個(gè)32通(t©φ★ōng)道(dào)的(de)ATE測試機(jī). λ '它可(kě)以通(tōng)過擴展的(de)方式擴展到(dào)εδ‍512通(tōng)道(dào). 每個(gè)↕∑‍÷pin有(yǒu)1ns的(de)沿精度，每個(gè)p'←↑in都(dōu)有(yǒu)pmu，能(néng)夠進行(x®®‍íng)DC/AC參數(shù)測試.

     Each每個(gè)數∞φ(shù)字通(tōng)道(dào)都(dōu<<™ )是(shì)獨立可(kě)編程的(de)，支持 drive h¥δi, drive lo, sense hi, sense lo, π≤∞and load value. 另外(wài)，每個(gè)通(tōng) ₽道(dào)的(de)PMU功能(néng)，可(kě)以支持D< ‍φUT (device under test®λ♠>)的(de)DC并測

     UI-♥<↔X6920支持大(dà)容量的(de)pattern mem δory，每個(gè)pin有(yǒu)64 Mb的(deΩ♠™δ)容量，可(kě)以用(yòng)于動态采集. 闆卡支持激勵/響±←£應和(hé)實時(shí)比較模式的(de)工(gōng)作(zuò★ ←δ)模式，可(kě)以通(tōng)過自(zì)∞∞帶的(de)大(dà)容量test pattern完成最α" 大(dà)的(de)測試效率

     UI-X6920的(•≤>de)timing generator支持4個≤‌₹€(gè)timing phases和(hé) 4個(gè)windo'∞ws，可(kě)以獨立進行(xíng)drive和(h↕♠é)sense. 每個(gè)phase和(héε₽☆) window包括2個(gè)timing沿asse↕ rt/deassert和(hé)一(yī)個(gè)獨立的(de)open w§✘indow/close window. 這(zhè)4個(gè)phases"> 和(hé)windows能(néng)用(≥™yòng)于指定通(tōng)道(dào)的(de)e ₽÷γdge timing功能(néng). 每個(gè)pha"'<®se/window有(yǒu)64個(gè)獨立的(de)time set ，ε©​§每個(gè)sequence都(dōu)可(kě)以獨立自(zì)定義. 另→≤♥外(wài)，支持多(duō)種數(shù)據格π♠&式, 包括NRZ,R0, RZ,RC ,SBC. 這(zhè £)些(xiē)數(shù)據格式可(kě)以指定不(bù§Ω)同的(de)通(tōng)道(dào).

      闆卡采用(yòng₹  ♠)per pin per site的(de)架構ε♠, 具有(yǒu)ATE的(de)功能(néng)測試能(n♠♦éng)力,同時(shí)支持豐富的(de)軟件(jiàn)開(kāi)發,>≈ΩUI-X6920數(shù)字IO闆卡能(néng)給大(dà)部分(fēn)♣↓π≠用(yòng)戶在芯片測試上(shàng)帶來(lái)的φ↓βΩ(de)成本優勢，該闆卡可(kě)以和(hé)其他(tā)PXI闆★δ​∞卡一(yī)起配合使用(yòng)，組成PXI的(∏β®de)測試解決方案，例如(rú)RF，SMU和(hé)Mixed-₩α∑®signal cards等，能(néng)夠針對(£→‍★duì)大(dà)量的(de)芯片測試應用(yò ∑βng)，例如(rú) MCU, Sensors, RF ICs,&n₩÷"'bsp; PMICs,和(hé)多(duō)功能(néng)IC等

  特點 

标準PXI總線産品

100MHz 測試速率

32個(gè)I/O通(tōng)道(dào)，每通(tōng)道(dà©‍ ✘o)PMU 

系統可(kě)擴展至512通(tōng)道(dào)

drive/sense量程從(cóng)-1.5V到(d☆φ∑↕ào)+6.5V

任意pin可(kě)設任意site

每通(tōng)道(dào)Per-pin timingα 功能(néng)，輸入輸出雙向功能(né∑↔∏$ng)

通(tōng)道(dào)DC功能(néng)和(hé)PMU功∞$≥✘能(néng)

64個(gè)timing sets具有(y≤&↔ǒu)timing動态變換功能(néng)

每通(tōng)道(dào)64Mb內(nèi)存¶♠π

支持Windows7/10操作(zuò)系統

支持LabView和(hé)LabWindows

支持主/從(cóng)架構通(tōng)信模式

目标應用(yòng)

半導體(tǐ)測試

ASIC測試

高(gāo)速測試/發送期望對(duì)比測試/ 仿真&↔φ測試

ATE 數(shù)字測試

LED/激光(guāng)二極管

太陽能(néng)電(diàn)池

晶體(tǐ)管

汽車(chē)測試

航空(kōng)航天

功率器(qì)件(jiàn)

傳感器(qì)/物(wù)聯網