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高(gāo)精準電(diàn)源量測單元 Model 52400e Se£ries
高(gāo)精準電(diàn)源量測單元 Model 52400e Ser<$×ies
功能(néng)描述
52400e系列SMU(電(diàn)源量測單元,Source MeasΩ≠urement Unit)為(wèi)高(g©↔āo)速PXIe模組設計(jì),可(kě)ε₽δ安裝于最新PXIe機(jī)箱。5240≤↑0e SMU是(shì)一(yī)款可(kě)♠φ↓$進行(xíng)高(gāo)精密電(diàn)壓/電(di₹λàn)流供應源或負載模拟,同時(shí)又(yòu)可(kě)γ♠Ωα精确量測電(diàn)流/電(diàn)'→ 壓值之綜合高(gāo)精密儀器(qì)設備。52400e系列電(δ≠diàn)源量測單元具備四象限輸出功能(nén ÷α♦g),不(bù)單精确且具備高(gāo)速± β'量測性能(néng)。這(zhè)些(xiē)特性使得(de)電(d✘£iàn)源量測單元适合進行(xíng)精确的(de) ≤π£參數(shù)量測;應用(yòng)範圍包含:ICs,發光(guāαα÷¶ng)二極體(tǐ)(LEDs),雷射二極體(tǐ)(Laser Diod∏↑•es),電(diàn)晶體(tǐ)(Transisto∑αrs),太陽能(néng)電(diàn)池(Solar cells≠♣$β),锂電(diàn)池(Batteries)$±•以及其他(tā)半導體(tǐ)元件(jiàn)。
為(wèi)符合各樣的(de)量測條件(jiàn),52400e系列電(di✔ ↕σàn)源量測單元提供16段頻(pín)寬控δ♦制(zhì)供使用(yòng)者選擇穩定的(de)控制(zh<<↑'ì)回路(lù)。多(duō)重檔位加上(shàng)18-bit DAC↔€©/ADC提供了(le)最佳程式、量測解析度。取樣頻(pín)率₽<(Sampling Rate)達到(dào)100ks/S。特殊可(kě♠δ)編程輸出阻抗,提供使用(yòng)者設定<♥↑電(diàn)池內(nèi)部串聯電(diàn)阻,此特性δ♠↔↓讓52400e系列電(diàn)源量測單元成為(wèi)理♣↕∞(lǐ)想的(de)電(diàn)池模拟器(qì)。标準六線式(±force©", ±sense and ±guards )接線,針對(duì)在低δφ•€(dī)電(diàn)流量測應用(yòng),如(rú)行(xíng)動 φδ裝置IC與感應器(qì)測試,可(kě)防止↔∏≈任何漏電(diàn)流(Leakage Current)并降低(dī)量測時(≤☆€shí)間(jiān)(Settling Time),以大(dà)幅提高(gā<Ω™↑o)量測精度及速度。
52400e系列電(diàn)源量測單元內(★εφnèi)建專利硬體(tǐ)時(shí)序引擎,使用(yòng)時(≠§shí)序(Deterministic Timing)控✔$制(zhì)每一(yī)個(gè)電(diàn)源量測單元單元,即使✘€₩未與電(diàn)腦(nǎo)連接使用(yò∏≥ε•ng),量測程序仍可(kě)正常執行(xíng)。記憶體(tǐ)于每 γ♥>個(gè)Channel最多(duō)可(kě)儲存65525個($γ☆gè)定序指令及內(nèi)建32k量測讀(dú)值,可(kě)提供數(shù✔$)個(gè)模組卡片的(de)量測程序進行(σ♠xíng)同步,并确保無任何輸出及量測之時(shí)間< (jiān)延遲。